Máy đo mật độ diện tích tia X/β

Ứng dụng

Tiến hành thử nghiệm không phá hủy trực tuyến trên mật độ bề mặt của vật thể được đo trong quá trình phủ điện cực pin lithium và quá trình phủ gốm của bộ tách.


Chi tiết sản phẩm

Thẻ sản phẩm

Máy đo mật độ bề mặt tia X

Khi tia tác động vào điện cực pin lithium, tia sẽ bị điện cực hấp thụ, phản xạ và tán xạ, dẫn đến cường độ tia phía sau điện cực truyền qua bị suy giảm nhất định so với tia tới, và tỷ lệ suy giảm nói trên có mối quan hệ mũ âm với trọng lượng điện cực hoặc mật độ bề mặt.

hình ảnh 2
hình ảnh 3

Nguyên tắc đo lường

Khung quét loại "o" chính xác:Độ ổn định lâu dài tốt, tốc độ hoạt động tối đa 24 m/phút;.

Thẻ thu thập dữ liệu tốc độ cao tự phát triển:Tần số thu nhận 200k Hz;

Giao diện người-máy:Biểu đồ dữ liệu phong phú (biểu đồ xu hướng ngang và dọc, biểu đồ trọng lượng thời gian thực, biểu đồ dạng sóng dữ liệu gốc và danh sách dữ liệu, v.v.); người dùng có thể xác định bố cục màn hình theo nhu cầu của họ; nó được trang bị các giao thức truyền thông chính thống và có thể thực hiện kết nối MES vòng kín.

Máy đo mật độ bề mặt tia X

Đặc điểm của thiết bị đo mật độ bề mặt tia β-/X

Loại tia Thiết bị đo mật độ bề mặt tia B - tia β là chùm tia điện tử Thiết bị đo mật độ bề mặt tia X-Tia X là sóng điện từ
Bài kiểm tra áp dụng
các đối tượng
Đối tượng thử nghiệm áp dụng: điện cực dương và âm, lá đồng và nhôm Đối tượng thử nghiệm áp dụng: lá đồng và lá nhôm điện cực dương, lớp phủ gốm cho bộ tách
Đặc điểm tia Tự nhiên, ổn định, dễ vận hành Tuổi thọ ngắn hơn tia β
Sự khác biệt phát hiện Vật liệu catốt có hệ số hấp thụ tương đương với nhôm; trong khi vật liệu anot có hệ số hấp thụ tương đương với đồng. Hệ số hấp thụ tia X của C-Cu thay đổi rất nhiều và không thể đo được điện cực âm.
Kiểm soát bức xạ Nguồn tia tự nhiên do nhà nước quản lý. Việc xử lý bức xạ phải được thực hiện cho toàn bộ thiết bị, và quy trình xử lý nguồn phóng xạ khá phức tạp. Phương pháp này hầu như không có bức xạ nên không cần đến những thủ thuật phức tạp.

Bảo vệ bức xạ

Máy đo mật độ BetaRay thế hệ mới mang đến sự cải tiến về độ an toàn và dễ sử dụng. Sau khi tăng cường hiệu quả che chắn bức xạ của hộp nguồn và hộp buồng ion hóa, đồng thời loại bỏ dần màn chì, cửa chì và các cấu trúc cồng kềnh khác, thiết bị vẫn tuân thủ các quy định của "GB18871-2002 - Tiêu chuẩn Cơ bản về Bảo vệ Chống Bức xạ Lonizing và An toàn Nguồn Bức xạ", trong đó, trong điều kiện vận hành bình thường, suất liều tương đương ngoại vi hoặc suất liều tương đương định hướng ở khoảng cách 10 cm tính từ bất kỳ bề mặt nào có thể tiếp cận của thiết bị không vượt quá 1 1u5v/h. Đồng thời, thiết bị cũng có thể sử dụng hệ thống giám sát thời gian thực và hệ thống đánh dấu tự động để đánh dấu khu vực đo mà không cần phải nâng tấm cửa của thiết bị.

Thông số kỹ thuật

Tên Chỉ số
Tốc độ quét 0~24 m/phút, có thể điều chỉnh
Tần suất lấy mẫu 200kHz
Phạm vi đo mật độ bề mặt 10-1000 g/m2
Độ chính xác lặp lại phép đo Tích phân 16s: ±2σ:≤±giá trị thực *0,2‰ hoặc ±0,06g/m2; ±3σ: ≤±giá trị thực *0,25‰ hoặc ±0,08g/m2;
Tích phân 4s: ±2σ:≤±giá trị thực *0,4‰ hoặc ±0,12g/m2; ±3σ: ≤±giá trị thực*0,6‰ hoặc ±0,18 g/m2;
Hệ số tương quan R2 >99%
Lớp bảo vệ bức xạ Tiêu chuẩn an toàn quốc gia GB 18871-2002 (miễn trừ bức xạ)
Tuổi thọ của nguồn phóng xạ Tia β: 10,7 năm (thời gian bán hủy Kr85); Tia X: > 5 năm
Thời gian phản hồi của phép đo <1ms
Tổng công suất <3kW
Nguồn điện 220V/50Hz

  • Trước:
  • Kế tiếp:

  • Viết tin nhắn của bạn ở đây và gửi cho chúng tôi